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業務紹介

設計・開発


当社では、宇宙用部品の開発、FPGAの回路設計及びスクリーニング用データの作成サービスを実施しています。

また、宇宙用部品やFPGA等の供給でこれまでに培ってきた技術を応用し、お客様のご要望に応じたASIC(Application Specific Integrated Circuit)の設計、開発、製作、評価を行っています。

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宇宙用部品の開発

-宇宙用ASICの設計開発-

当社では、宇宙航空研究開発機構(JAXA)より委託を受け宇宙用部品の部品開発を行っています。

現在の開発は、一般民生用の国内ファウンドリを活用しプロセスに手を入れることなく、宇宙用として使用出来る耐放射線性を有したLSIの開発を以下のフローで行います。

ターゲットプロセスを使用した耐放射線性セルの開発・評価(TEGを使用)
  • ターゲットプロセスの耐放射線性セルの設計
  • 設計したセルをシャトルサービスでTEGチップ製造
  • 耐放射線性セルの放射線評価(SEL、SEU、SET、TID等)
  • 完成した耐放射線性セルのライブラリ化
 
試作品の設計・製造・評価
  • 耐放射線セルを使用し各種デザインを設計
  • 設計後、シャトルサービスを使用し試作
  • 試作デバイスの評価
 
製品製造
  • ファウンドリサービスを使用した製品製造
 
開発確認試験の実施
  • 宇宙用デバイスとしての開発確認試験の実施(試験は当社で実施)

-開発実績-

【宇宙用320MIPS級64ビットMPU】 (詳細)

特徴は以下を参照下さい。なお、開発確認試験を完了し現在供給中です。また、2007年3月にJAXA殿認定されました。

  • 0.18μmプロセスのCMOSセルベースIC
  • 電源電圧は3.3V(I/O部)及び1.8V(コア部)の2系統
  • 宇宙用MPUとしては現在世界最高速(200MHz)
  • MPUコアはMIPS 5KfTMの64bitMPUを使用命令キャッシュ及びデータキャッシュはそれぞれ32Kbytes
  • 周辺回路を内蔵
    • CPUバススレーブ
    • メモリコントローラ
    • DMAコントローラ(Direct Memory Access)
    • UART(Universal Asynchronous Receiver & Transmitter)タイマ/カウンタ
    • 割り込みコントローラ
    • PCIインターフェイス(32ビットバス)
  • 宇宙用高信頼性セラミックパッケージ(304ピン)を使用
  • 耐放射線性セルを使用し、SEU耐性を確保
200mips64mpu

【同期式バーストSRAM】

200MIPS級64ビットMPUに接続出来る高速メモリで、 チップ仕様については設計を完了しており、試作チップの電気的特性評価も完了しております。

現在、複数チップの積層アセンブリについて検討中です。

特徴は以下のとおりです。

  • 電源電圧は3.3V(I/O部)及び1.8V(コア部)の2系統
  • 耐放射線性セルを使用し、SEU耐性を確保
  • 動作周波数:100MHz

【宇宙用25MIPS級64ビットMPU】

NASDA R4901-IDFP/IDFPRとして開発された本製品の特徴は以下を参照下さい。現在供給中です。

  • 宇宙用に下地を共通化した0.35μmプロセスCMOSゲートアレイ
  • 電源電圧は3.3V(5V入力可)
  • MPUコアはMIPS T,U,Vアーキテクチャ互換
    命令キャッシュ及びデータキャッシュはそれぞれ8Kbytes
  • パリティチェック(命令キャッシュのみ)
  • エラー検出及びエラー訂正機能(EDAC)
  • 宇宙用高信頼性セラミックパッケージ(304ピン)を使用
25mips64mpu

【16ビットMPU】

  • 0.8μm プロセスCMOSゲートアレイ
  • 電源電圧は3.3V(5V入力可)
  • コアはVAutomation(現ARC International)社製V186(インテル80186コンパチブル)
  • 周辺回路を内蔵
    • チップセレクトとレディ信号
    • 2チャンネルのDMAコントローラ
    • 3チャンネルの16-bitタイマ
    • 割り込みコントローラ
    • リフレッシュコントローラ
16mpu
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FPGAの回路設計、及びスクリーニング用データ作成サービス

アンチフューズタイプFPGAに対し、お客様の仕様を基に回路設計サービスを実施しています。

また、スクリーニングに使用するLSIテスタやバーンイン試験用のデータ作成も実施しています。

更に、FPGAへの書き込みサービスや、お客様に安心してご使用頂けるよう、ご希望の品質レベルに応じた書き込み後の電気的パラメータ試験やバーンイン試験などのスクリーニング試験を実施しています。

詳細は、「お問い合わせフォーム」からお問い合わせ下さい。


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