業務紹介

環境試験

ロケットや人工衛星など宇宙用機器に使用されている部品は多種にわたり、またその性能は年々高機能化してきています。そのような中、お客様のニーズに応じた各電子部品に対する耐環境性評価のための各種試験を実施しています。

各種試験内容につきましては、「お問い合わせフォーム」からお問い合わせ下さい。

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温度サイクル試験

HIRECでは、MIL-STD-883試験方法1010に準拠した温度サイクル試験を実施し、電子部品の宇宙環境における高温及び低温のサイクルに対する耐性の確認を行っています。

  • 試験装置:タバイエスペック製 TSV-40
  • 温度範囲:高温さらし +60〜+200℃
    低温さらし -65〜-10℃
  • 試験条件(例):MIL-STD-883試験条件1010条件C
    -65〜+150℃、100サイクル

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恒温恒湿試験

-耐湿性試験-

耐湿性試験は、高温高湿の条件下での劣化に耐えるかを評価する試験です。
当社では、製造/スクリーニング試験後の品質確認試験グループD試験の一部としてMIL-STD-883試験方法1004に準拠した耐湿性試験を実施しています。
試験条件は、+25〜65℃、80〜100% で行っています。

-恒温恒湿バイアス試験-

恒温恒湿バイアス試験は、恒温恒湿環境下において部品を動作させずにバイアスを印加して評価する試験です。
試験条件は、85℃85%定格電圧が代表的です。
当社では、宇宙用部品、一般民生評価用部品など多種多様な部品について試験を実施しています。

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静電気破壊試験

私達の身の回りのあらゆる要因によって生じる静電気は、 この静電気が半導体部品に印加されると故障を引き起こすことがあります。

宇宙用部品など高信頼性を要求される部品は、 製造工程において頻繁に検査工程が設けられており、 その際作業者から印加される静電気が半導体を破壊する恐れがあります。

静電気破壊試験

宇宙用半導体部品は静電気に対する耐量試験を行っており、 これをESD試験と呼んでいます。(ESD=Electrostatic Discharge)

当社では、MIL規格、EIAJ規格などに適応でき4000V、 128ピン試験が可能な装置を整備し、これまでJAXA宇宙用部品の静電気耐性評価を長年行っています。


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