業務紹介

放射線耐性評価

当社では、各関係機関のご協力のもと、加速イオンビームによるシングルイベント試験、ガンマ線によるトータルドーズ試験等を国内及び海外で実施し、半導体部品の耐放射線性の評価を行っています。

特に、当社は、日本原子力研究開発機構 高崎量子応用研究所(TIARA)殿が、年2回行っている定期募集のとりまとめ業務を行っております。

当社では、諸外国の放射線試験関係者と情報交換を行い、ベテランスタッフが最新の技術レベルで放射線試験を実施しています。ご質問等ございましたら、お気軽にご相談下さい。

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シングルイベント(Single Event Effects:SEE)試験

加速イオンビーム照射による各種シングルイベント試験(SEU、SEL、SEBなど)を、日本原子力研究開発機構高崎量子応用研究所殿、放射線医学総合研究所殿、米国BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY(BNL)殿、LAWRENCE BERKELEY NATIONAL LABORATORY(LBNL)殿などにて実施しております。

また、カルフォルニウム252(252Cf)照射試験については、宇宙航空研究開発機構(JAXA)殿にて実施しております。

  • 重イオン(SEE)試験
    大型イオン加速器で得られる重イオンの入射により、 回路素子の誤動作(例:Single Event Upset(SEU))や恒久的損傷(例:Single Event Latch-up(SEL), Single Event Burn-out(SEB))を評価します。








  • (写真上)日本原子力研究開発機構
          高崎量子応用研究所 TIARA
    (写真下)Brookhaven National
          Laboratory(BNL)
日本原子力研究開発機構 高崎量子応用研究所 TIARA Brookhaven National Laboratory(BNL)
  • プロトン(SEE)試験
    高エネルギープロトンの核反応で生ずるSEEを評価します。 中・低軌道衛星用途、またナノデバイスでは、プロトンSEE試験の実施をお勧めします。

    (写真)日本原子力研究開発機構
        高崎量子応用研究所 TIARA
日本原子力研究開発機構高崎量子応用研究所TIARA
  • Cf試験
    252Cfから出る核分裂片を使って、重イオンSEEの予備試験を行い、費用のかかる加速器を用いた試験をより確実なものとします。









    (写真)JAXA 筑波宇宙センター
宇宙研究開発機構 筑波宇宙センター
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トータルドーズ(Total Ionizing Dose Effects:TID)試験

    定常的に放射線(電子線、ガンマ線)に晒されると素子特性が徐々に劣化します(例:リーク電流増加)。そのため、TID耐性をコバルト60のガンマ線源を用いて評価します。

    また、バイポーラ系デバイスでは低ドーズ率増速劣化(Enhanced Low-Dose-Rate Sensitivity:ELDRS)が起こります。このような劣化現象を評価するには低ドーズ率試験をお勧めします。

    (写真)日本原子力研究開発機構
         高崎量子応用研究所

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変位損傷(Displacement Damage:DD)試験

光デバイス(フォトカプラ、LED、光センサ、CCD等)や太陽電池が放射線に晒されると結晶欠陥が生じて(変位損傷)特性劣化を起こします。これを評価するには、陽子線や電子線照射試験を行います。


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その他(材料等)の放射線試験

材料(ケーブル、液晶、ナノ材料、バッテリー、塗料、光触媒など)について、各種放射線評価試験を行います。


放射線試験実施の流れ

重イオンSEE試験の例
受注
試験計画作成
ビームタイム予約
供試体入手
照射治具設計製作
LSIテスタ・プログラムの作成
デバイスのキャップ
またはモールドの除去
初期電気的特性測定
イオンビーム照射
及びSEU/SEL測定
@各施設
照射後電気的特性測定
データまとめ、解析
報告書納入
TID試験の例
受注
試験計画作成
Co-60照射施設予約
供試体入手
照射治具設計製作
LSIテスタ・プログラムの作成
初期電気的特性測定
ガンマ線照射@各施設
照射後電気的特性測定
アニール
アニール後電気特性測定
データまとめ、解析
報告書納入

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関連業務

  • 宇宙環境解析
    お客様が部品を搭載される予定の衛星軌道とミッション期間から放射線曝露量を解析し、試験条件をご提案します。
  • 試験治具(照射用ボード及び測定回路)の設計、製作
    豊富な経験とノウハウを活用して試験治具を製作し、効率的な試験を行います。
  • パッケージのデキャップ
    半導体部品に重イオンビームを照射するため、パッケージのデキャップを行います。
  • 軌道上寿命・エラー予測
    照射試験結果から軌道上での寿命、エラーを予測するための解析を行います。
  • 試験サポート
    SEE測定及び電気測定(TID試験)をお客様ご自身で行われる場合は、施設利用手続き及び照射作業を支援します。
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放射線試験申し込み案内

当社では、各関係機関との協力関係のもと、加速イオンビームによるシングルイベント試験、電離放射線によるトータルドーズ試験を実施し、電子部品の耐放射線性の評価を行っています。

お客様のご依頼された試験は、HIRECの放射線試験専門のベテランスタッフが責任を持って対応させていただきます。

放射線照射試験をご計画の際は、「お問い合わせフォーム」にてお問合せ下さい。その他ご質問等ございましたら、お気軽にご相談下さい。


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