サービス詳細
放射線耐性評価
- シングルイベント試験
- ① 重イオン試験
- ② プロトン試験
- トータルドーズ試験
- 変位損傷試験
中性子線耐性評価
- 中性子線耐性評価試験
放射線評価・放射線耐性向上に関するコンサル
- 試験計画立案、試験実施
- データ解析・評価、対策等
BUSINESS商品・サービス
放射線耐性評価・
中性子線耐性評価計画・設計
宇宙環境で使用されるデバイス(含むボードレベル)では放射線耐性評価が必要になります。
HIRECは耐放射線性の測定において長年の実績をもとに、お客様のニーズに合わせた評価を実施します。
放射線耐性評価とは？
宇宙は、銀河宇宙線や太陽から出る放射線が飛来している環境です。
そのなかで、宇宙用電子部品(含むボードレベル)の耐放射線性は、最大の課題となっています。
例えば、放射線が入射することでシングルイベント現象(SEE：ソフトエラー、ハードエラー[ラッチアップ、バーンアウト等])や、トータルドーズ効果(TID：放射線ダメージの蓄積による劣化)等が引き起こされるリスクがあります。
特に、地上用部品を宇宙環境で利用する場合には、事前の耐放射線性評価が必要となります。
放射線耐性評価におけるHIRECの強み
HIRECでは、各関係機関ご協力のもと加速イオンビームによるシングルイベント試験、ガンマ線によるトータルドーズ試験等を国内及び海外で実施しています。
長年にわたる宇宙部品の放射線耐性評価サービスを通して、多くの経験と実績を積み重ね、お客様から高い評価を頂いているのがHIRECの強みです。
「地上用部品が宇宙環境で使えるか評価したい」
「放射線を扱う評価なので、外部の専門知識のある会社に委託したい。」
とお考えの方に、最適な技術をご提供しています。
中性子線耐性評価とは？
特に自動車、鉄道、サーバー、医療機器などの高信頼性機器をご使用される場合に実施をお勧めしているのが、中性子線耐性評価です。
中性子は、宇宙線から飛来する放射線が地球の大気と衝突することにより発生し、地表に降り注ぎます。
宇宙線起因の中性子が半導体デバイスに入射することにより、シングルイベント現象が引き起こされるリスクがあるのです。
中性子線耐性評価におけるHIRECの強み
HIRECでは、宇宙開発で培った放射線評価技術をもとに中性子線耐性評価を行っており、これまでの豊富な経験を活かした、確実な試験結果をお届けすることが可能です。
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半導体デバイスの突然故障や原因不明の不具合が発生してしまい、宇宙線起因の放射線が原因なのか確認したい。
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お客様から中性子耐性評価データを求められたが、どのような評価をすればよいか提示する試験方法が分からない。
などのお困りごとにも、お応えします。
お気軽にお問い合わせください。